설명

반도체, PCB, SMT, LED 등 정밀 분석용 고성능 전자부품 검사장비

XT V 160 – Premium X-ray inspection

XT V 160

Nikon XT V 160 은 반도체, PCB, SMT, LED 등 전자부품 정밀 검사에 최적화 된 장비 입니다.

< 제품 주요 특징 >

• 조이스틱과 마우스를 사용한 간편하고 쉬운 동작법
• Dual Monitor 장착으로 효과적인 불량분석
• Open Tube 탑재로 반영구적인 장비수명
• 저렴한 필라멘트 교체비용으로 유지보수비용 절감
• 샘플의 일련번호를 자동으로 인식하는 바코드 인식기 장착 가능
• Tube 와 Generator 일체형으로 불필요한 Overhaul 감소
• 장비 입고 공간에 특별한 제약이 없음
• 세계 최고 수준의 Reconstruction program (CT Option) 

< 주요 스펙  >

• Max kV : 160kV
• Beam Power : 20W
• Source : Micro Open tube
• Spot size : 1μm
• Table size : 510mm x 510mm
• Tilt : 0~75 degrees
• CT Option : 가능

< Applications  >

• Solder reflow 분석
   
• BGA 연결 및 분석
• Solder 공극 계산
   
• 홀을 통한 측정 및 검사
   
• Voiding measurement 다이 부착
• 볼 결합 분석
• 스티치 결합 분석
• 마이크로 BGA 분석
   
• 패드 배열 분석
• Dry joint 검출 및 분석 

< 세부 스펙  >

XT V 130C / XT V 160

문의사항 있으시면 연락주시기 바랍니다.

언제든지 친절히 상담 해드리겠습니다.

담당자에게 카다로그 요청해주시면 메일로 보내드리겠습니다.